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浅谈边界扫描技术的应用

作者:富连达发布日期:2023-07-20浏览人数:209

技术前沿

在现代电子应用系统中,印刷电路板越来越复杂,多层板的设计越来越普遍,大量使用各种表贴元件和BGA(ball grid array) 封装元件,元器件的管脚数和管脚密度不断提高,使用万用表、示波器测试芯片的传统“探针”方法已不能满足要求。在这种背景下,早在20世纪80年代,联合测试行动组(joint test action group,简称JTAG) 起草了边界扫描测试(boundary-scan testing,简写BST)规范,后来在1990年被批准为IEEE标准1149.1-1990规定,简称JTAG标准。

边界扫描测试有两大优点:一个是方便芯片的故障定位,迅速准确地测试两个芯片管脚的连接是否可靠,提高测试检验效率;另一个是,具有JTAG接口的芯片,内置一些预先定义好的功能模式,通过边界扫描通道来使芯片处于某个特定的功能模式,以提高系统控制的灵活性和方便系统设计。现在,所有复杂的IC 芯片几乎都具有JTAG控制接口,JTAG控制逻辑简单方便,易于实现。

 

为什么需要边界扫描

 

1.利用JTAG编程口即可对被测板进行无损伤测试

2.自动生成测试向量,无需人工写测试逻辑

3.边界扫描器件之间互连线可以实现故障诊断

4.可进行测试覆盖率分析

5.可对边扫器件周围的存储器、总线芯片等进行测试

6.对FPGA、CPLD、FLASH进行在线编程

 

 

富连达继电器


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