XJTAG是由英国剑桥的毕业生们设计、开发和提供支持的，XJTAG给开发者和测试工程师充分释放了边界扫描的潜能。

XJTAG能帮助您在整个产品生命周期中加速设计和开发进程，改善调试和测试手段。具体可以做些什么测试呢，下面跟小编一起来了解吧。

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能对BGA封装的器件进行测试

BGA封装与早期封装技术的不同之处在于，其所有外部连接都是通过器件底面和电路板之间的焊球实现的，而不是通过从器件侧面突出的引脚实现的。

由于器件和电路板之间的连接在物理上和目视检查上都是不可接近的，因此对于BGA封装的器件，传统的测试方法就只有X射线检测能做得到。但是X射线检测价格昂贵且耗时，对每块电路板进行测试时，会检查图像以检查每个焊球是否正确放置。虽然X射线提供了有用的信息，但仍然依赖于手动或自动的目视检查，因此不能完全依靠它来定位所有错误。

在这种背景下，JTAG边界扫描不仅仅是钉床测试的有用替代方案；它是一种节省资金的重要工具，可以消除对昂贵且可能不确定的X射线技术的需求。

02

链条完整性测试

JTAG测试最基本的测试形式是链完整性测试，即测试在JTAG链中的JTAG器件是否确实存在。

大多数符合JTAG标准的器件都包含一个ID代码，可用于测试器件是否就位以及JTAG链是否正确连接。不包含ID代码的设备将始终返回值为0的单个位；因此，JTAG链可以测试具有和不具有ID码的设备的正确顺序。

03

连接性测试

连接或互连测试检查电路中JTAG启用的组件周围的连接。这些连接（称为网络）可能有四类故障；短路、开路、卡入和拉电阻故障。这些故障的示例如下图所示。

JTAG连接测试只能全面检查JTAG兼容器件之间的网络故障，其中信号可以在输入端驱动并在输出端读取以检查开路故障。（只有一个启用JTAG连接的网络仍然可以测试短路故障）

连接测试可以检查生产的每个电路是否存在由制造错误（例如设备上的焊接短路连接器）引起的生产故障。在涉及BGA器件的情况下，几乎没有机会目视检查或物理探测连接，所以使用JTAG测试是非常方便的。

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非JTAG 器件测试

边界扫描可以测试电路中不符合JTAG标准的部分。非JTAG器件的输入可以通过JTAG控制，只要这些共享网络连接JTAG兼容的设备。同样，非JTAG器件的输出也可以通过JTAG器件回读。同时，也可以对非JTAG器件进行功能性测试，已检查其功能是否正常。

这种形式的测试既可以应用于单个非JTAG器件，也可以应用于电路中任何可被视为功能单元的非JTAG器件集群。此方法的一个重要示例是内存测试。创建JTAG测试信号序列，以操纵存储设备的控制信号和地址以及数据总线，从而将信息写入存储器;创建第二个测试信号序列以将此信息读回(对存储器的测试)。

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在系统编程

边界扫描测试不仅能测试PCB上电气故障，同时也能对一些可编程器件，如FPGA和CPLD，可以在连接到PCB后对其进行编程。

其他器件，如闪存，可以通过与JTAG链中的器件连接来间接编程。

使用JTAG对可编程设备进行编程的能力避免了购买昂贵的编程器和插座的需要。还有一个优点是能够轻松更新设备上保存的内存图像。

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